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日本yokogawa光波計 AQ6150B

日本yokogawa光波計 AQ6150B

產品型號:

所屬分類:光波計

產品時間:2024-09-11

簡要描述:日本yokogawa光波計 AQ6150B
滿足從光器件到光傳輸器件的測量需求
的高性能、高性價比光波長計“AQ6150B"
AQ6150B 是基于邁克爾遜干涉儀的臺式光波長計。

詳細說明:

日本yokogawa光波計 AQ6150B


滿足從光器件到光傳輸器件的測量需求
的高性能、高性價比光波長計“AQ6150B"

AQ6150B 是基于邁克爾遜干涉儀的臺式光波長計。

  • 波長精度±0.7ppm

  • 波長范圍:900 至 1700 nm、1200 至 1700 nm、1270 至 1650 nm

  • 測量時間 0.2 秒或更短(大約是 AQ6150 的兩倍)

  • 一次最多可測量 1024 個波長的多波長型

  • 增加了單波長類型

  • 支持調制光和濾光片的測量

日本yokogawa光波計 AQ6150B

特征

出色的波長測量性能

模型波長范圍波長準確性最大值波長檢測次數
標準模型
空氣質量6150B
標準第1270章1650nm± 0.7百萬分之一1024(多波長類型)
1(單身的波長類型)
波長擴張1200~1700納米
寬帶900~1700納米

 

波長精度±0.7ppm

AQ6150B 提供± 0.7 ppm 的精度,以滿足光學元件和WDM 傳輸設備檢測的精度要求。
AQ6150B基于內置波長參考光源極其穩定的光波長,通過實時校正,實現長期高波長測量性能。

 

一次最多可測量 1024 個波長的多波長型

AQ6150B 的最小分辨率為 5GHz,可以同時高速、準確地測量每個輸入多達 1024 個波長。
因此,它可以滿足現在和將來WDM傳輸系統開發和生產的測量需求。
這種多波長批量測量能力還有助于提高光學器件生產的生產效率和成本。
例如,組合和測量多個光學設備會增加每小時測量設備的數量并提高生產量。
此外,通過測量系統的合理化,有望降低設備成本、內置光源的更換成本等維護成本。

 

單波長型

檢查晶圓和 LD 芯片輸出可能僅測量單個波長。單波長型是適用于此類應用的低成本光波長計。

 

支持調制光和濾光片的測量

光傳輸系統和光收發器輸出的以 10 Gbps、25 Gbps 甚至 100 Gbps 調制的光信號具有很寬的光譜寬度,因此可以使用不進行光譜分析的單波長光波長計進行精確測量。很難。
AQ6150B除了一般的CW光測量模式外,還具有進行光譜分析的調制光模式,可以準確測量調制信號等寬帶光信號的中心波長。
這種調制光模式還可用于測量 AWG 等濾波器的中心波長。

 

即使在低輸入功率下也能保持高性能

AQ6150B內置自動增益控制功能,可根據輸入功率自動調整電放大電路的增益。因此,即使是 -40dBm 的低輸入信號也能最大限度地提高波長精度和測量速度。

 

通過 0.2 秒的高速測量提高吞吐量

0.2秒高速測量

高速測量和高處理能力對于提高生產吞吐量尤為重要,因為波長可變的 LD 和光模塊調整和表征使用它們對每個設備執行數百個光波長測量。.. AQ6150B 可以在 0.2 秒內執行測量、分析,甚至將數據傳輸到 PC。這是我們傳統模型的兩倍。這極大地有助于提高生產量。在重復測量模式下,每秒最多可以測量5次,這對于在實時監測波長的同時調整設備非常有用。

 

降低生命周期成本

光波長計內置的波長參考光源(He-Ne激光器)需要定期更換,更換的頻率和成本對光波長計的運行成本(生命周期成本)有很大影響,增加。
如右圖所示,AQ6150B在推出時降低了初期投資成本,延長了波長參考光源的更換周期,并提供低價的更換服務,降低客戶的生命周期成本。 .

生命周期成本

 

易于升級的測量系統

借助 AQ6150B,您可以使用 GP-IB 或 ETHERNET 遠程控制界面輕松構建自動測量系統。用于遠程控制的控制命令基于測量儀器常用的可編程儀器標準命令(SCPI),所以使用橫河的AQ6140系列光波長計和其他符合SCPI標準的光波長計。如果您正在使用,您可以輕松升級測量系統,而無需更改測量程序。





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