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日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ

日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ

產(chǎn)品型號:

所屬分類:光源

產(chǎn)品時間:2024-09-06

簡要描述:日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ
太陽能光譜儀S-2440modelⅡ設(shè)計用于太陽或太陽模擬器光譜輻照度的測量。儀器的光譜響應(yīng)針對太陽光譜進行了優(yōu)化,并且通過采用具有高靈敏度的檢測器、高效率的分光儀、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件,實現(xiàn)了測試的高度精que性。

詳細說明:

日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ

摘要

太陽能光譜儀S-2440modelⅡ設(shè)計用于太陽或太陽模擬器光譜輻照度的測量。儀器的光譜響應(yīng)針對太陽光譜進行了優(yōu)化,并且通過采用具有高靈敏度的檢測器、高效率的分光儀、高效能數(shù)據(jù)處理程序和軟件,實現(xiàn)了測試的高度精que性。

特點

新設(shè)計的電子器件

為了降低溫度和噪聲導(dǎo)致的不穩(wěn)定,所有的電子回路進行了新的設(shè)計,本產(chǎn)品不僅避免了發(fā)射的噪聲,而且抑制了回路中的噪聲。

1. SOMA舊的型號的比較

針對太陽模擬器的測試進行了優(yōu)化

儀器的光譜響應(yīng)進行了調(diào)整,以保證對太陽模擬器的準(zhǔn)確測試。為了實現(xiàn)這一特點,儀器在紫外和近紅外區(qū)域的噪音水平進行了改善。

脈沖光源的同步測量

上一代產(chǎn)品只能在脈沖開始后對光譜進行測量。本產(chǎn)品能夠在脈沖開始前對光譜進行測試。這一功能稱為事件觸發(fā)模式。

事件觸發(fā)模式通過采用重新設(shè)計的回路和軟件來實現(xiàn)。在這一模式下,儀器對光譜進行連續(xù)測試。因此,脈沖前的光譜可以回歸得到,并且也可以得到脈沖后的光譜。計時信號由嵌入反射型擴散板的硅光電二極管產(chǎn)生。計時信號和光強水平可以在0.01~1sun范圍內(nèi)進行調(diào)整。

采用顯著余弦特征的反射型擴散板

尺寸:H15×W60×D80/φ40mm

高持久耐用并且易于保持其特點。本產(chǎn)品具有強的反射和顯著地余弦特征。

注意:當(dāng)光纖和擴散器更換時,需要對儀器進行重新校準(zhǔn)。

光譜匹配評價標(biāo)準(zhǔn)

JIS C 8912-2011/IEC 60904-9(ED-2)-2007 (結(jié)晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器)

JIS C 8933-2011(非結(jié)晶系太陽能電池及組件的太陽模擬器)

JIS C 8942-2009 (多結(jié)太陽能電池及組件的太陽模擬器)

ASTMDirect AM1.5Global AM1.5-2009

所有標(biāo)準(zhǔn)的太陽模擬器的光譜匹配評價均可實現(xiàn)。

光譜匹配(A,B,C)可以在測試之后立即計算。

日本nihonika太陽光譜儀S-2440 model Ⅱ

光譜輻照度的測試軟件

測試參數(shù)

光譜輻照度(μW/cm2/nm):測試數(shù)據(jù)以曲線圖的形式示于顯示器中,文本數(shù)據(jù)(間隔1nm)也可以得到。

光譜匹配度:數(shù)據(jù)列表中的任意光譜數(shù)據(jù)均可以進行評價。所選取的數(shù)據(jù)的光譜匹配度可以立即示于顯示器中。測試模式

  1. 基本測試 主要用于連續(xù)光測試

  2. 重復(fù)測試 可固定時間間隔重復(fù)測試

  3. 事件引發(fā)模式 用于發(fā)射脈沖測試,引發(fā)脈沖前后的光譜均可得到

  4. 標(biāo)準(zhǔn)測試 通過對比標(biāo)準(zhǔn)發(fā)光器的光譜輻照度對產(chǎn)品進行校正

    事件引發(fā)模式

事件引發(fā)模式檢測器

  1. 可以觀察引發(fā)脈沖的波形

  2. 引發(fā)脈沖的光強可以從0.01~1sun范圍內(nèi)進行調(diào)整。調(diào)整可以通過拖動滑塊SW方便操作。

  3. 可以選擇引發(fā)脈沖前后光譜的數(shù)目

  4. 可以選擇引發(fā)脈沖之后延遲的時間

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機

附光纖反射型擴散板(L=0.9m

觸發(fā)器線纜(L=0.9m

光譜輻照度測試軟件

USB線纜(L=2.0m

交流電適配器(LTE24E-S2-3

檢驗單

主要規(guī)格

型號

S-2440   model /HIDAMARI mini

波長

300~1100nm

半波長

5nm

曝光時間

1~1000毫秒

入射光學(xué)系統(tǒng)

附光纖反射型擴散板(L=0.9

PTFE   φ40mm

光纖(石英,核心φ0.8mm

注:附光纖反射型散射板無法與主機斷開

測試項目

分光輻射照度測定(μW/cm2/nm),光譜匹配度評價

光譜匹配度評價標(biāo)準(zhǔn):

JIS   C 8912-2011JIS C 8933-2011 JIS C 8942-2009IEC 60904-9(ED-2)-2007ASTMDirect   AM1.5Global AM1.5-2009

測試模式

基本測試  重復(fù)測試

事件引發(fā)模式  標(biāo)準(zhǔn)測定

操作系統(tǒng)

Windows8/7/Vista32位,64位)

(個人計算機不包括在內(nèi))

交流/直流轉(zhuǎn)換器

ADC   16

通訊接口

USB   2.0

數(shù)據(jù)格式

CSV文本數(shù)據(jù)(數(shù)據(jù)以每1nm輸出)

數(shù)據(jù)保存

高達1000個光譜數(shù)據(jù)

溫度和濕度

10~35,相對濕度80%或更低,無凝結(jié)

電源

直流電12V   2A

功率損耗

交流電100~240V  50/60Hz (直流電適配器 LTE24E-S2-3

尺寸/重量

19H)×210W)×(D/5kg

選項

標(biāo)準(zhǔn)光源裝置,漫反射面固定裝置





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